可接委測微粉粒徑，快速出示結果，詳情請來電詢問。

產品特性：

量測範圍： 0.1 微米-1000微米
量測原理: 雷射光繞射法(Laser Diffraction
Method, Mie Theory), 符合IS013320-1規範
光源: 紅光氦氖雷射(633nm波長)
偵測器: 包含前向,側向,大角度及測器群, 偵測角
度涵蓋 0.1~1000um
量測時間: 光學對焦-背景扣除-進料-清潔,

少於3分鐘內完成
量測速率:10kHz

數據資訊：

• 平均粒徑、中位數粒徑、峰值
• d(10)/d(50)/d(90)及任意百分比含量數值
• 特定粒徑值之累加或遞減含量百分比
• 100組分佈區間數值
• 粒徑分佈圖及重疊比較圖
• 遮光度值
• 分佈標準差及變異係數
• 粒徑相對比表面積值
• 分析精確性(Mean):
  < ± 1%誤差 (NIST 認證之標準粒徑樣品分析)
  分析重覆性(Mean):
  < ± 1% 誤差(3 次重覆分析)